今見れる無料アーカイブ
20221125 大気非曝露冷却CPのご紹介 ―電池材料の断面作製法―
充電状態にある電池材料の解析には、大気を遮断した環境 (大気非曝露環境) が必須です。 CP (クロスセクションポリッシャ™) は、大気非曝露環境下での断面加工・試料搬送に対応し、さらに試料を...
20230310 Arイオン平面ミリングにより試料作製をした半導体チップの電...
走査電子顕微鏡 (SEM) で試料表面の局所的な電位差を確認する方法として、電位コントラスト (Voltage contrast :VC) 法があります。VC法は半導体デバイスの内部配線が設計通...
CP耳寄り情報！短時間加工のコツ
CP (クロスセクションポリッシャ™) は、SEMの断面作製装置として広く普及しています。近年では、電子部品の層構造の確認や接合部などの品質管理にもCPが使用されるようになり、断面試料を短時間で...
20220826 FIB-SEMのクライオ技術のご紹介
クライオ電子顕微鏡法がノーベル化学賞を受賞して5年が経ち、単粒子解析から、クライオ電子線トモグラフィー (ET) やマイクロ電子回折 (ED) 等へと応用範囲が広がっています。クライオETやマイ...
20230822 CPによる電子部品断面作製 ～基礎と半導体パッケージ内部断...
X線CTを用いることにより半導体パッケージの表面から数百マイクロメートル以上の深い位置に存在する内部構造を調査することができます。さらに、その断面を露出させれば、SEMで分析が可能となり、より詳...
美麗な像が未来をつくる ～JSM-IT800‹SHL›の各検出器による情報選択...
恒例となりましたオックスフォード・インストゥルメンツ株式会社とのジョイントセミナーの動画となります。
SEM観察の基礎と応用 ～試料情報を引き出す前処理と観察条件設定～ ...
最近の走査電子顕微鏡（SEM）はフォーカス・スティグマなど、自動調整機能の発達により、誰でも簡単に像取得ができるようになりました。しかし、試料からの情報を的確に捉えるためには、観察目的に合った試...
Correlative microscopy (CLEM) の実践的なワークフロー 動画閲覧お申...
三次元的なCorrelative microscopy (CLEM) を行うための具体的な方法をご説明します。登上線維に蛍光タンパク質を発現したマウスの小脳を共焦点顕微鏡 (OM)で撮影し、三次...
試料を冷やしてダメージ軽減！ソフトマテリアルや含水試料の観察！ 動...
ソフトマテリアルや含水試料は、SEM観察が難しい試料です。これらの試料に対して、従来はクライオシステムを用いて観察していましたが、冷却ホルダーとSEMの低真空 (LV:Low Vaccum) 機...
コーヒーの美味しさの秘密にSEMで迫る！ ～卓上SEM JCM-7000で知るコ...
卓上SEMによる粒子解析を用いたコーヒーの評価方法について紹介いたします。 コーヒーは生産地や抽出方法などによって、香り・味・テクスチャーなどの風味が変動します。風味の評価方法としてヒトによる...
ウィルス、細菌、真菌！どのSEMで観察しますか？試料に応じた使い分け...
試料や目的に応じて最適な観察条件は変わります。つまり、どのSEMで観察するかがとても重要になります。 今回は装置の使い分けが特に難しい大きさの生物試料を中心に卓上SEM、W-SEM、汎用FE-...
JCM-7000を使うとこんなに簡単！電子部品の機械研磨断面を迅速解析し...
走査電子顕微鏡 (SEM) で試料の内部構造を観察する前処理法の一つとして、機械研磨による断面作製があります。 機械研磨面は広領域の断面が得られるため、卓上SEM JCM-7000のZerom...
ルーティンワークはJSM-IT510におまかせ ～Simple SEMで変わるSEMの...
走査電子顕微鏡 (SEM) は、今や研究開発だけでなく、品質保証や製品検査で幅広く使われています。これらの現場では、決められた条件で観察を繰り返すことが多く、作業の効率化が求められてきました。 ...
20221104 快適なEBSD測定を行うためのSEMの選び方
知りたい情報に対して分析装置が適切であることは、測定を容易にし、データの質を高めることに繋がります。 後方散乱電子回折(EBSD)測定においても同様であり、どの走査電子顕微鏡(SEM)で測定す...
Aquarius Starter Kit (FlowVIEW TeK.社製) を用いた液中試料の観察
含水試料の観察は、光学顕微鏡による観察が一般的です。しかし、光学顕微鏡ではナノレベルでの観察は困難であり、電子顕微鏡による微小な構造の観察が期待されてきました。通常、SEMは、液中に分散した材料...
非導電性試料に対するSEM観察の進め方
走査電子顕微鏡 (SEM) では、非導電性試料をそのまま観察すると、帯電 (チャージアップ) が起こるため、帯電対策が不可欠です。しかし、帯電の見分け方が分からない、対策を施しても帯電が抑制でき...
20230915 SEMによる粒子解析 ～解析の種類と使い分け～
SEMによる粉体の測定は、粉体の元素情報を求められる場合と、粉体のサイズや形状情報を求められる場合、大きく2パターンに分かれます。これらは『粒子解析』と呼ばれ、目的に応じて使い分けます。今回の発...
自動収集されたマイクロ電子回折パターンによる薬剤分子の三次元構造...
マイクロ電子回折法は試料を傾斜させながら電子回折図形を取得し、得られた傾斜シリーズから試料の結晶構造を解析する手法です。電子線はX線よりも試料との相互作用が強く、1ミクロン程度の小さな結晶から解...
新型冷陰極電界放出形クライオ電子顕微鏡 "CRYO ARM:tm: 300 II"の紹...
CRYO ARM™ 300のリリースから約3年半、今回新たに開発された"CRYO ARM™ 300 II"は、電子ビーム制御による高速撮像、システム改良による操作性の向上、ハードウェアの安定性向...
"CRYO ARM:tm: 300 II" を用いたワークフローの御紹介 動画閲覧お申込...
CRYO ARM™ 300のリリースから約3年半、今回新たに開発された"CRYO ARM™ 300 II"は電子ビーム制御による高速撮像、システム改良による操作性の向上、ハードウェアの安定性向上...